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金属磁记忆检测仪
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金属磁记忆检测仪 型号：TC-TSC-2M-8
TC-TSC-2M-8应力集中磁检测仪是应用金属磁记忆法来测量、记录和处理设备与结构的应力形变状况的诊断数据的系统。
能用于按专门的检测方法来评估设备的应力变形状况，并测定应力集中区。此仪器的工作原理在于测量被检测对象表面磁场Hp的分布。磁场强度使用A/m (安培/米)为单位，长度计数器换算出长度值，以mm为单位。
金属磁记忆检测仪 该系列仪器从方法上确立了磁场Hp分布同残余应力之间的关系。本仪器连同开发出来的于不同工业部门的检测方法，对在运行中设备的诊断领域提供了崭新的原理和手段。这里所采用的条件是，找出结构的薄弱部位，其形式是金属的磁记忆。检测方法符合俄罗斯联邦采矿技术监督局的规定。本仪器已被推荐进入俄罗斯联邦标准
TC-TSC-2M-8型应力集中磁检测仪是8通道仪器，在仪器性能和产品外观等方面具有很大的提高，除了具有HA/TSC-1M-4仪表的全部功能外，同时拥有以下更*结构和功能特点：
多达8个测量通道；
使用配备新型双分量传感器，多个铁磁探测式转换器放置成双分量，用来同时检测磁场的法向分量(Нру)和切向分量(Нрх)；
数字电路、16位微处理器、1M内存；
32MB存储空间，用于写入10-15天期间检测结果而无须将信息转入电脑；
分辨率为320X240点阵的大屏幕液晶显示；
操作简化，使用14键键盘；
软件直接在仪器上自动处理结果；
探头可以测量场强值和移动长度值，速度大可达0.5米/秒；
不要求对被检测对象进行专门的磁化，因为它利用了它们运行中形成的残余磁性；
不要求对被检测表面作任何准备；
在检测过程中能确定事先不知道的金属的应力集中和缺陷的部位；
仪器能把数据记录到存储器，并可把数据转录入计算机中；
配套提供分析软件MM-System，可在计算机上对数据作深入的处理。
技术参数：
| HP 值量程 | ±2000 A/m |
| HP值测量通道 | 2—8通道（根据探头） |
| 小测量步长（间距） | 1mm |
| 大测量步长（间距） | 128 mm |
| 大扫描速度（步长为1mm时） | 0.2 -0.5 m/s |
| 每个通道磁场测量的基本相对误差 | <5% |
| 长度测量的相对误差 | <5% |
| 微处理器 | 16 位 |
| 内存容量 | 1 Mb |
| 闪存容量 | 32 Mb |
| 液晶显示 | LCD显示屏，320x240点阵 |
| 计算机通过RS-232口传输数据的速度 | 115 kbps |
| 键盘 | 14 键 |
| 供电电池 | 直流7.2V |
| 功率消耗 | 0.8-3.0 VA |
| 工作温度范围 | -15°C— +55°C |
| 相对湿度范围 | 45% - 85% |
| 几何尺寸 | 243x120x40 mm |
重量
| 0.6 kg
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 | 产品名称：数字式四探针测试仪 产品型号：SZT-4 |
数字式四探针测试仪型号：SZT-4
SZT-4数字式四探针测试仪，是二量程的电阻测量仪器，配以手持式测试头或座式测试架，可用来测量片状，柱状，或块状，电阻率在0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。(客户根据不同的要求可以选择不同的量程，小可以测量0.0001Ω大可以测量100000Ω,根据电流档定精度)通过对恒流源的调整，可以对某些测量结果进行修整，例如对普通硅材料的测试结果要乘以0.628的探险头修正系数，对硅材料薄层扩散和导电薄膜 “方块电阻“ 的修正系数为4.53等均可通过调正恒流电流加以处理。SZT－4数字式四探针测试仪，体形小巧，操作方便，量程适中，十分适於对重炼回料的分选。
本仪器工作环境条件为：
温 度：18℃―25℃
相对湿度：60%－80%
工作室内应无强电场干扰，不与高频设备共用电源。
二，SZT-4数字式四探针测试仪技术参数
1,测量范围
电 阻 率:0.01-200Ω-cm
方块电阻:0.01-200Ω-口
电 阻:0.01-200.0
2,数字电压表
(1)量 程:200mV单一量程
(2)误 差:读数 ±0.2%±3字
(3)输入电阻:>10MΩ
3,恒流源
(1)电流输出:0~10mA连续可调
(2)量 程:1mA, 10mA
(3)误 差:±0.2%±3字,
4,手持式四探针测试头
(1)探 针 间 距:1mm
(2)探针机械游移率:±1.0%
(3)探 针 材 料:碳化钨,φ0.
(4)压力:大 2Kg
5,电源:220V±10%：50Hz
功耗：5W
6，外形尺寸：
7，使用方法：取出仪器平放於桌上，将三芯电源线接入仪器的电源插座中，并接通交流电压（220V），再将测试探头的插头插入相应的插座中，按下电源开关使仪器得电，仪器上的数字电压表就有读数显示，如果面板上的二个功能开关全部处於弹出状态，则二个开关旁边的“调整”指示灯和：“1mA”指示灯将被点亮，此时旋转电流调节旋钮电压表读数就会发生有规则的变化，这说明仪器已经可以正常工作。
下一步就可以跟据测试的须要对电流进行调整。电流调整应该将电流开关放在10mA的位置上。
8，电流调整：
（1）半导体（硅）材料的电阻率测试：在10mA电流量程上将电流调到6.28mA,相当于在10mA电流情况下测得的结果,乘以探头修正系数0.628。由於恒流源的调整，1mA和10mA是同步的，在`10mA调准以后1mA量程同样包含有这个修正系数。
（2）半导体（硅）材料薄层扩散，玻璃或塑料的薄导电镀复层的方块电阻 测试:在10mA电流量程上将电流调至4.53mA, 测得结果乘以10,就是方块电阻。
（3）电阻测试：电阻测试不能使用探头，必须换用带有鳄鱼夹子的四线插头“电阻测试线”（选配件）。电流调到10mA,电压表的显示值就是电阻值，不用修正。
（4）在做好测试前的准备工作之后，取下探头保护盖，将探头压在被测工件上，使四根探针和工件保持良好接触，
使用时的注意事项；
（1）保护盖取下后一定要保存好，用毕仍要盖好，以防探针损坏。
（2）仪器操作时，应备戴乾燥手套，操作场地，桌椅均应保持乾燥。
（3）在被测材料外形尺寸允许的情况下，建议使用台式测试架（选购件），可使测试精度和稳定性都会有所提高。
（4）对於被测工件为片状其厚度<3.49毫米时,还应对测试结果进行厚度修正,修正参数见参数表,附录`1A和附录1B 。
（5）附录2，是对片状工件外形（园形，矩形）和测量位置的修正参数表。
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