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新型计米轮
产品简介
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新型计米轮 型号：TC-JMQ
能参数：
1。工作电源：DC12V (±10%) 20mA
2。缘抗阻：≥50MΩ
3。输出方式：NPN信号输出
4。输出容量：≤50mA
5。测量精度：≥0.05％
6。测量规格：JMQ1：1NPN/米
JMQ2：1NPN/分米
JMQ3：1NPN/厘米
用 途：
TC-JMQ系列长度测量计米轮广泛应用于包装、印刷、造纸、纺织、橡胶、塑料等行业中各类传动设备上作为精密长度测量装置。计米轮分为三种型号规格：TC-JMQ1（米级）、TC-JMQ2（分米级）、TC-JMQ3（厘米级）。计米轮的轮盘是由特种耐磨防滑橡胶合成材料与铝合金轮盘框架组合而成，长期使用磨损很少，确保计量精度；内部电路采用*的设计方法，抗干扰能力强：因而整机具有性能稳定可靠，故障率低等显著优点。
特 点：
◆本装置计米轮盘是由特种耐磨防滑橡塑材料与铝合金轮架复合而成，能有效确保长期使用的计长精度。
◆内部数字电路设计*，采用进口器件，整机性能稳定可靠，抗干扰能力强。
安装尺寸：
见说明书。
新型计米轮环境:
海 拔：＜1000m
环境温度：-10℃～50℃
相对湿度：45～85%
无腐蚀性气体和粉尘的场合。
 | 产品名称：数字式四探针测试仪 产品型号：SZT-1 |
数字式四探针测试仪型号：SZT-1
SZT-1型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻（方块电阻），换上特制的四探针测试夹，还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外，探针经过特殊加工后，还可以测量薄膜材料电阻率。广泛于半导体材料、器件厂、高等院校化学物理系、科研单位，对半导体材料的电阻性能测试。
本仪器测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，游移率小，使用寿命长。
SZT-1型数字式四探针测试仪技术参数：
1． 测量范围：
电阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
方块电阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
电阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω
导电类型鉴别：电阻率范围 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2． 可测半导体材料尺寸
直径：φ15~100 mm
长度：≤400mm
3． 测量方法：
轴向、断面均可
4． 显示方式：31/2,数显,性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。
5． 恒流源：
（1） 电流输出：直流电流0~100 mA连续可调。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 误差：±0.5%读数±2个字
6.四探针测试探头
(1) 探针间距:1mm
(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0%
7.电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W
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