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数字超声波探伤仪 型号:BY-ST61
主要用途: | 波峰记忆:实时检索缺陷高波,标定缺陷大值 |
主要特点: | 全数字,真彩显示器,根据环境选择背景色、亮度值自由设定,领潮国内应用技术数码飞梭旋钮,一键式操作 |
技数字超声波探伤仪术参数: |
BY-ST61性能特点 A 特优点 G 探伤功能 WHBY-ST61技术参数 脉冲强度:200V、400V、600V三档可选 脉冲宽度:100-300ns连续可调 阻抗匹配:51Ω、150Ω、200Ω、400Ω四档可选 工作方式:单晶探伤、双晶探伤 扫描范围:零界面入射~ 6000mm钢纵波 采样频率/位数:150MHz/8bits 检波方式:全检波、正、负检波、射频波显示 工作频率:0.5MHz ~ 20MHz(带宽可选:0.5-4MHz、2-8MHz、10MHz、2MHz-20MHz) 各频段噪声电平: < 15% 衰减器精度:< ±1dB/12dB 增益调节:110dB(0.1dB、2dB、6dB步进,全自动调节) 声速范围:(100 ~ 20000)m/s 动态范围:≥ 30dB 垂直线性误差:≤ 3% 水平线性误差:≤ 0.1% 分辨力:>40dB(5N14) 灵敏度余量:>62dB(深200mmΦ2平底孔) 数字抑制:(0 ~ 80)%,不影响线性与增益 电源、电压:直流(DC)7.2V±10%;交流(AC)220V±10% 工作时间:连续工作5小时以上(锂电池供电) 环境温度:(-10 ~ 40)℃(参考值) 相对湿度:(20 ~ 95)% RH 外型尺寸:215 x 165 x 45(mm) |
薄膜热物性测试仪 型号:HCX09A
该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时,同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同,因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦(或正弦)规律变化时的瞬态实验模型。该仪器采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数,由于薄膜是有限厚的一维模型。在这一状态下,当温度振荡频率达到一定值后,利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器于研究薄膜材料热物性特性。
主要技术参数:
1.导热系数范围:0.05~20w/m·k
2.仪器实现数字化测温,精度优于0.2级。
3.测量结果,准确度 ±3%
4.计量加热功率可调节±1%。
5.试样尺寸要求:圆片或方片100*100*(0.1—5)mm.
6.测试温度:室温。
7.配接计算机实现全自动测试分析。
仪器配置:测试主机一台,
测试软件一套,
计算机一套用户自备,
![]() | 产品名称:六价铬测定仪、 总铬测定仪 产品型号:TD-6JG/ZG |
六价铬测定仪、 总铬测定仪 型号:TD-6JG/ZG
产品特点
Ø 六价铬、总铬测定根据GB7467-87,测定数据准确有效。
Ø 采用进口高亮度长寿命冷光源,光学性能佳,光源寿命长达10万小时。
Ø 大屏幕液晶中文显示,采样直接测定,无需加入试剂,操作简单省时。
Ø 可保存标准曲线20条及999个测定值(日期、时间、参数、检测数据)。
Ø 内存标准工作曲线,用户还可以根据需要标定曲线。
Ø 具有数据断电保护功能和数据储存功能。
Ø 具有USB接口,数据可传输到电脑。具有打印功能,可对测试的记录立即打印或查询记录打印。
Ø 消解器通用于COD、总磷、总氮等项目的消解;智能PID温度控制技术,加热均匀、加热速度快。
Ø 消解器温度自动控制,防温保护系统,显示当前温度,设定温度,时间。
检测原理
六价铬的测定:显色剂直接与六价铬反应,生成紫红色络合物,再以分光光度法测定其吸光度,经微电脑芯片处理计算后直接显示六价铬含量(mg/L)。
总铬的测定:在一定条件下碱性过硫酸盐将水样中的三价铬被氧化成六价铬,再以六价铬测定方法测定其中六价铬含量,即为总铬含量(mg/L)
技术参数
测定参数 | 六价铬 | 总铬 |
测量范围 | 0.01-1mg/L | |
测量误差 | ≤±5%(F.S) | |
重复性 | ≤3% | |
消解温度 |
| 125℃ |
消解时间 | 30min | |
大功率 | 主机:100W 消解仪:650W | |
外型尺寸 | 主机:310mm×230mm×150mm 消解仪:230mm×340mm×130mm | |
重量 | 主机小于3kg 消解仪小于6.7kg |
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