新型静电放电试验台   型号：TC-ESDD-2
产品简介：
EMS61000-2A智能型静电放电发生器是针对静电放电抗扰度试验的特点和要求而专门设计的高可靠性静电放电发生器，通过更换阻容套件，可方便的进行IEC模式、HBM模式及MM模式等三种模式试验，于各类半导体器件、电子线路和设备的静电放电试验。通过该仪器具有性能稳定、使用方便、等优点。该仪器满足IEC、EN、GB等相关标准要求。

新型静电放电试验台  技术特性：
ESDD-2静电放电试验台是台式设备和落地式设备两种配置的组合。
台式设备试验台                                  落地式设备试验台
水平耦合板： 1600*800*0.8（mm）垂直耦合板： 500*500*0.8（mm）
垂直耦合板： 500*500*0.8（mm）   垂直耦合板座： 500*500*1200（mm）
缘衬垫： 1400*600*0.5（mm）    缘支座： 1200*800*100（mm）
试验桌： 1700*900*800（mm）      电阻电缆：470kΩ*2
电阻电缆：470kΩ*2
注：两种配置共用壹块参考接地板，尺寸为2600*1800*0.8（mm）

产品名称：电容电压特性测试仪电容电压（C-V）特性测试仪
产品型号：KCV300

电容电压特性测试仪电容电压（C-V）特性测试仪型号：KCV300

电容电压特性测试仪产品简介
    CV法利用PN结或肖特基势垒在反向偏压时的电容特性，可以获得材料中杂质浓度及其分布的信息，这类测量成为C-V测量技术。这种测量可以提供材料横截面均匀性及纵向杂质浓度分布的信息。
组成半导体器件的基本结构的PN结具有电容效应（势垒电容），加正向偏压时，PN结势垒区变窄，势垒电容变大；加反向偏压是，PN结势垒区变宽，势垒电容变小。
KCV-300电容电压（C-V）特性测试仪是测试频率为1MHz的数字式电容测试仪器，于测量半导体器件PN结的势垒电容在不同偏压下的电容量，也可测试其它电容。
仪器有较高的分辨率，电容量是四位读数，可分辨到0.001pF，偏置电压分辨率为0.01V，漏电流分辨率为0.01μA。
该测试仪器性能稳定可靠，功能齐全，精度高，操作简单，于元件生产厂家，科研部门，高等院校等单位。
电容电压特性测试仪主要技术指标如下：
测试信号频率：1.000MHz±0.01%
测试信号电压：≤100mVrms
电容测量范围：0.001pF～10000 pF
误差：≤±3%
直流偏压：自带偏压0.01～45V，可外接偏压源拓展；
漏电流：0.1～199.9μA
供电电源：AC220V 50Hz
消耗功率：<40W

产品名称：片剂硬度测试仪片剂硬度计
产品型号：YD-I

片剂硬度测试仪片剂硬度计型号：YD-I
用途
片剂硬度测试仪YD-1，是测试片剂硬度值*的检测仪器。该产品经国家法定质量监督部门测试，其主要技术指标达到或过国内外同类仪器的较高水平。

主要特点
YD-1型手动片剂硬度测试仪采用单片微型计算机进行控制，高精度压力传感器，数字显示硬度值，单位千克力。
可连续测量片剂的硬度值，人工装片，手动加压，自动显示，自动锁存，自动复位，自动循环测试。
面板采用PC塑料面膜，无按键，数码管显示
主要元器件及零部件采用进口或国产优质产品
结构简洁，美观大方，性能优良，操作简便，工作可靠

技术指标
硬度测试范围: 0-20Kgt
硬度测试精度: ±0.05kg
直径测试范围: 20mm
电源: 220V 50Hz 10W