新型涡流涂层测厚仪 型号:TD-MC-2000B
 | 产品名称:数显式硅酸根分析仪 硅酸根分析仪 产品型号:ND2012 |
数显式硅酸根分析仪 硅酸根分析仪型号:ND2012
ND2012型数显式硅酸根分析仪是一种可供实验室使用的水质分析仪。该仪表广泛应用于火力发电厂锅炉给水蒸气、化学除盐水及凝结水中的硅酸根 (SiO2)的含量以及半导体器件行业、化工厂、制药厂等纯水中的硅酸根含量测定。
ND2012型数显式硅酸根分析仪主要特点:
1:光源采用进口单色冷光源,功耗低,寿命长;
2:光电测量系统设计有恒温系统,信号不受环境温度影响,无漂移
3:智能延时排液
4:智能延时标定
ND2012型数显式硅酸根分析仪 测量范围 0~200µg/L (以SiO2计)
基本误差 ± 2% FS
耗电功率 < 80W
工作电源 220VAC,50HZ
重复性误差 < 1.5% FS
长期漂移 < 2% FS (24小时)
环境温度 10℃~40℃
相对湿度 ≤85%
保修期一年
TD-MC-2000B型涡流涂层测厚仪是一款灵便、易用的涂层测厚仪仪器,配置的单探头可检测铁质基材上几乎所有涂镀覆层。 新型涡流涂层测厚仪 ■ 产品特性: ◆尽在掌握:TD-MC-2000B型涡流涂层测厚仪拥有了一个完善的测量系统,高品质而且经济。它使用简便、体积小巧和结构牢固的,只有几个按键,专为单手操作而设计。 能帮助您完成大量的测厚任务,是您涂镀层厚度测量任务的解决方案。 ◆ 测量:TD-MC-2000B型涡流涂层测厚仪的测量单位达到了μm级。高精密的测量再加上宽广的量程还有什么测量任务能难住您呢? ◆ 轻松读取:高对比度液晶显示,*的自动背光功能,当光线暗时,背景光会自动打开。既节省电力又可使您在任何情况下轻松读取数据。 ◆ 更加灵活的操作:TD-MC-2000B型涡流涂层测厚仪拥有254个数据存储空间,可直接连接打印机。还能完成更进一步的数据处理。使用我们特别设计的应用软件,您能够将测试数据档案从测厚仪传送到电脑上,同时还可以为您计算8组数据中的大、小、平均值。 ◆ 于各种应用场合:TD-MC-2000B型涡流涂层测厚仪使用单一探头,可以测量钢铁表面的几乎所有材质的金属或非金属覆层。 ■ 应用领域:TD-MC-2000B型涡流涂层测厚仪是一个使用简单的精密厚度测量工具,广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。它可以方便无损的测量铁磁材料上的非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。 ■ 技术参数表: 产品型号 | 2000B | 测量范围 | 0~1200μm | 误差 | <3%±1μm | 基体小曲率半径 | 凸:1.5mm 凹:6mm | 基体小厚度 | 0.2mm | 基体小平面 | 7mm | 探头 | 单探头全量程测量 | 数据处理 | 可存储254个测量数据、可连接打印机及微机 | 电源类型 | 2节七号1.5V电池 | 仪器功耗 | 大功耗 100mw | 显示屏 | 黑白液晶显示,100ⅹ100,自动背光 | 显示信息 | 耦合指示、测量速率 | 使用环境 | 温度0℃~40℃,相对湿度<90% | 外形尺寸 | 124×50×24mm | 重 量 | 150克 |
 | 产品名称:数显式硅酸根分析仪 硅酸根分析仪 产品型号:ND2012 |
数显式硅酸根分析仪 硅酸根分析仪型号:ND2012 ND2012型数显式硅酸根分析仪是一种可供实验室使用的水质分析仪。该仪表广泛应用于火力发电厂锅炉给水蒸气、化学除盐水及凝结水中的硅酸根 (SiO2)的含量以及半导体器件行业、化工厂、制药厂等纯水中的硅酸根含量测定。 ND2012型数显式硅酸根分析仪主要特点: 1:光源采用进口单色冷光源,功耗低,寿命长; 2:光电测量系统设计有恒温系统,信号不受环境温度影响,无漂移 3:智能延时排液 4:智能延时标定 ND2012型数显式硅酸根分析仪 测量范围 0~200µg/L (以SiO2计) 基本误差 ± 2% FS 耗电功率 < 80W 工作电源 220VAC,50HZ 重复性误差 < 1.5% FS 长期漂移 < 2% FS (24小时) 环境温度 10℃~40℃ 相对湿度 ≤85% 保修期一年 |
 | 产品名称:应力双折射仪 晶体应力双折射仪 产品型号:WYL-4 |
应力双折射仪 晶体应力双折射仪型号:WYL-4 仪器简介: 透明物体由于不均匀冷却或其他如受机械作用等原因,其内部会产生内应力,引起双折射。晶体物质本身具有双折射的光学特征。WYL-4应力双折射仪采用偏振光电矢量合成及光学补偿原理,通过对样品的光程差的定量测定,确定样品应力双折射的大小。本仪器能测定光学波片的光程差、确定光学玻璃的应力级别,是光学仪器制造业*的仪器,也是研究晶体矿物质的重要工具。
仪器特点: ★ 直读纳米级光程差,无须计算。 ★ 双分视场零位检测,灵敏度高。 ★ 样品工作台45度自动定位。 ★ 体积小巧,结构紧揍。 ★ 操作方便,可靠实。 技 术 参 数 | 技术指标 | 仪 器 | WYL-4应力双折射仪 | 单 色 光 波 长 | 589.44nm | 光 程 差 测 定范围 | ± 590 nm | 度 盘 格 值 | 5nm | Z小读数(1/5估读) | 1nm | 仪 器 零 位 误 差 | ±2nm | 波 片 读 数重复性 | 1nm | 光 源 | 220V 20W低压钠灯 | 被 检 样品Z大尺寸 | 宽度440mm;长度440mm;高度240 mm | 仪 器 尺 寸 (mm) | 413 ×250 ×400 |
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