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新型涡流涂层测厚仪

简要描述:

新型涡流涂层测厚仪 型号:TD-MC-
应用领域:TD-MC-2000B型涡流涂层测厚仪是一个使用简单的精密厚度测量工具,广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。它可以方便无损的测量铁磁材料上的非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。2000B

新型涡流涂层测厚仪   型号:TD-MC-2000B

 

产品名称:数显式硅酸根分析仪 硅酸根分析仪
产品型号:ND2012

数显式硅酸根分析仪 硅酸根分析仪型号:ND2012

ND2012型数显式硅酸根分析仪是一种可供实验室使用的水质分析仪。该仪表广泛应用于火力发电厂锅炉给水蒸气、化学除盐水及凝结水中的硅酸根 (SiO2)的含量以及半导体器件行业、化工厂、制药厂等纯水中的硅酸根含量测定。 
ND2012型数显式硅酸根分析仪主要特点: 
1:光源采用进口单色冷光源,功耗低,寿命长; 
2:光电测量系统设计有恒温系统,信号不受环境温度影响,无漂移 
3:智能延时排液 
4:智能延时标定 
ND2012型数显式硅酸根分析仪 测量范围 0~200µg/L (以SiO2计) 
 基本误差 ± 2% FS 
 耗电功率  < 80W 
 工作电源  220VAC,50HZ 
 重复性误差  < 1.5% FS 
 长期漂移   < 2% FS (24小时) 
 环境温度 10℃~40℃ 
 相对湿度 ≤85% 
 保修期一年

TD-MC-2000B型涡流涂层测厚仪是一款灵便、易用的涂层测厚仪仪器,配置的单探头可检测铁质基材上几乎所有涂镀覆层。

新型涡流涂层测厚仪  ■ 产品特性:

◆尽在掌握:TD-MC-2000B型涡流涂层测厚仪拥有了一个完善的测量系统,高品质而且经济。它使用简便、体积小巧和结构牢固的,只有几个按键,专为单手操作而设计。 能帮助您完成大量的测厚任务,是您涂镀层厚度测量任务的解决方案。
 ◆ 测量:TD-MC-2000B型涡流涂层测厚仪的测量单位达到了μm级。高精密的测量再加上宽广的量程还有什么测量任务能难住您呢?
◆ 轻松读取:高对比度液晶显示,独特的自动背光功能,当光线暗时,背景光会自动打开。既节省电力又可使您在任何情况下轻松读取数据。
◆ 更加灵活的操作:TD-MC-2000B型涡流涂层测厚仪拥有254个数据存储空间,可直接连接打印机。还能完成更进一步的数据处理。使用我们特别设计的应用软件,您能够将测试数据档案从测厚仪传送到电脑上,同时还可以为您计算8组数据中的大、小、平均值。
◆ 适用于各种应用场合:TD-MC-2000B型涡流涂层测厚仪使用单一探头,可以测量钢铁表面的几乎所有材质的金属或非金属覆层。

■ 应用领域:TD-MC-2000B型涡流涂层测厚仪是一个使用简单的精密厚度测量工具,广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。它可以方便无损的测量铁磁材料上的非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。

  ■ 技术参数表:

产品型号

 2000B

测量范围

0~1200μm

误差

<3%±1μm

基体小曲率半径

凸:1.5mm    凹:6mm

基体小厚度

0.2mm

基体小平面

 7mm

探头

单探头全量程测量

数据处理

可存储254个测量数据、可连接打印机及微机

电源类型

2节七号1.5V电池

仪器功耗

 大功耗 100mw

显示屏

黑白液晶显示,100ⅹ100,自动背光

显示信息

耦合指示、测量速率

使用环境

温度0℃~40℃,相对湿度<90%

外形尺寸

124×50×24mm

重    量

150克


 

 

 

产品名称:数显式硅酸根分析仪 硅酸根分析仪
产品型号:ND2012

数显式硅酸根分析仪 硅酸根分析仪型号:ND2012

ND2012型数显式硅酸根分析仪是一种可供实验室使用的水质分析仪。该仪表广泛应用于火力发电厂锅炉给水蒸气、化学除盐水及凝结水中的硅酸根 (SiO2)的含量以及半导体器件行业、化工厂、制药厂等纯水中的硅酸根含量测定。 
ND2012型数显式硅酸根分析仪主要特点: 
1:光源采用进口单色冷光源,功耗低,寿命长; 
2:光电测量系统设计有恒温系统,信号不受环境温度影响,无漂移 
3:智能延时排液 
4:智能延时标定 
ND2012型数显式硅酸根分析仪 测量范围 0~200µg/L (以SiO2计) 
 基本误差 ± 2% FS 
 耗电功率  < 80W 
 工作电源  220VAC,50HZ 
 重复性误差  < 1.5% FS 
 长期漂移   < 2% FS (24小时) 
 环境温度 10℃~40℃ 
 相对湿度 ≤85% 
 保修期一年

 

 

 

产品名称:应力双折射仪 晶体应力双折射仪
产品型号:WYL-4

应力双折射仪 晶体应力双折射仪型号:WYL-4

仪器简介: 
    透明物体由于不均匀冷却或其他如受机械作用等原因,其内部会产生内应力,引起双折射。晶体物质本身具有双折射的光学特征。WYL-4应力双折射仪采用偏振光电矢量合成及光学补偿原理,通过对样品的光程差的定量测定,确定样品应力双折射的大小。本仪器能测定光学波片的光程差、确定光学玻璃的应力级别,是光学仪器制造业不可缺少的仪器,也是研究晶体矿物质的重要工具。 


    仪器特点:

★ 直读纳米级光程差,无须计算。
★ 双分视场零位检测,灵敏度高。
★ 样品工作台45度自动定位。 
★ 体积小巧,结构紧揍。
★ 操作方便,可靠实。

技 术 参 数

技术指标

仪             器

WYL-4应力双折射仪

单  色  光  波  长

589.44nm

光 程 差 测 定范围

 ± 590 nm

度   盘   格   值

5nm

Z小读数(1/5估读)

1nm

仪 器 零 位 误 差

 ±2nm  

波 片 读 数重复性

1nm

光             源

220V 20W低压钠灯

被 检 样品Z大尺寸

宽度440mm;长度440mm;高度240 mm

仪 器 尺 寸 (mm)

413 ×250 ×400

 

 

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