风速传感器 型号：TC-LVFSC-12

采用抗紫外的塑质材料制作的风杯，三风杯整体化出模，牢固性好，韧性高，具有重量轻，起动扭距小，惯性低，能真实反应风速信息。截光盘采用高密度截光盘，可提高脉冲输出的频率值，更适于高精度的测量。被广泛应用于气象、海洋、环境、农业、林业、水利、电力、科研等领域。

技术参数：

1. 起动风速：≤0.4m/s
2. 测量范围：0～70 m/s
3. 环境温度：-40～+55℃
4. 环境湿度：100%RH
5. 分 辨 率：0.1m/s

接口：

航空插头XS12 3P
1P：+5V(电源输入，可定制其它电压规格)
2P：GND
3P：信号输出

输出信号：脉冲信号

1.工作电压：5V；12V、24V可定制
2.工作电流：≤5mA

尺寸：1. 高度：155mm
2. 风叶旋转直径：175mm
3. 重量：130g

配置：

1、三叶风杯
2、杯体
3、航空插头
4、说明书
5、合格证

产品名称：超声波测厚仪/智能型超声波测厚仪/便携式测厚仪 产品型号：TC-AR880

超声波测厚仪/智能型超声波测厚仪/便携式测厚仪 型号：TC-AR880 
一.概述： 
TC-AR880型是智能型超声波测厚仪，采用的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对经营设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。  
二.执行标准：GB11344标准，ISO/TS18173标准 
三.技术参数： 
1. 显示方法：高对比度的液晶显示，高亮度EL背光；  
2. 测量范围：0.75～300mm（钢中），公制与英制可选择；  
3. 声速范围：1000～9999 m/s：  
4. 分 辨 率：0.01mm、0.1mm二档可选 
5. 示值精度：±（0.5%H+0.04）mm H为被测物实际厚度  
6. 测量周期：单点测量时4次/秒、扫描模式10次/秒 
7. 存储容量：可存储20组（每组多99个测量值）厚度测量数据 
8. 输出接口：具有USB输出接口及驱动软件，可连接电脑或打印机 
9. 工作电压：3V（2节AA尺寸碱性电池串联）  
10.持续工作时间：约100小时（不开背光时）  
11.外形尺寸：150×74×32mm  
12.整机重量：245g  
四.主要功能： 
1. 适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度；  
2. 可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用；  
3. 具有探头零点校准、两点校准功能, 可对系统误差进行自动修正；  
4. 已知厚度可以反测声速，以提高测量精度；  
5. 具有耦合状态提示功能；  
6. 有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；  
7. 有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量；  
8. 具有自动休眠、自动关机等节电功能；  
9. 小巧、便携、可靠性高，于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰；  
五.工作原理： 
本超声波测厚仪对厚度的测量，是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体，一部分声信号被物体底面反射，探头接收由被测体底面反射的回波，地计算超声波的往返时间，并按下式计算厚度值，再将计算结果显示出来。  

产品名称：一体式风速风向传感器 产品型号：WYT

  一体式风速风向传感器型号： WYT

   WYT 一体式风速风向传感器采用一体式设计，外观设计科学美观，动力学特性好。风杯选用碳纤维材料，强度高，启动好；风向传感器采用低惯性风标及精密电位器，灵敏度高，精度高。本产品具有量程大、线性好、观测方便、稳定可靠等优点，可广泛用于气象、海洋、环境、机场、港口、实验室、工农业及交通等领域。方便用户对气象数据的进一步处理分析。

技术参数

产品特点

·动态特性好、线性好、精度高、灵敏度高、抗风强度大
·测量范围宽
·互换性好
·电路寿命长
·工作可靠
·抗雷电干扰能力强等多种优良性能

应用领域

本仪器可广泛应用于气象、军事、环保、农业、运动比赛和野外科考等领域。

注意事项

1、使用前请检查产品及其配件是否齐全；
2、切勿带电操作，按说明接线完毕检查无误后方可通电；
3、传感器属于精密器件，用户在使用时请不要自行拆卸、用尖锐物品或腐蚀性液体接触传感器表面，以免损坏产品；
4、请保存好保修单和合格证，维修时随同产品一同寄回。

产品选型 

产品名称：数字式太阳能级硅晶体少子寿命测试仪 晶体少子寿命测试仪 产品型号：LT-200 数字式太阳能级硅晶体少子寿命测试仪 晶体少子寿命测试仪型号：LT-200 LT-200数字式太阳能级硅晶体少子寿命测试仪简介 1. 仪器应用范围及说明 本设备是按照国家标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次全国十多个单位巡回测试的考验，证明是一种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒的少子体寿命测量；也可对硅片进行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，因此制样特别简便。 昆德公司数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点： 可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面进行测量，仪器可按需方提供的有标称值的校准样品调试寿命值。 1.1 可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。 1.2 液晶屏上直接显示少子寿命值，同时在线显示光电导衰退波形。 1.3 配置的红外光源：0.904～0.905μm波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅≈30μm，但光强较强，有利于测量低阻太阳能级硅晶体少数载流子体寿命，脉冲功率30W。 1.4 专门为消除陷进效应增加了红外低光照。 1.5 测量范围宽广 测试仪可直接测量： a、研磨或切割面：电阻率≥0.5Ω•cm的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。 b、抛光面：电阻率在0.5～0.01Ω•cm范围内的硅单晶、锗单晶厚度小于1mm的抛光片。 2. 设备技术要求及性能指标 2.1 少子寿命测试范围：0.5μs~6000μs              2.2 样品的电阻率范围：ρ﹥0.1Ω·cm（非回炉料）               2.3 测试速度：1分钟/片                       2.4 红外光源波长： 0.904～0.905μm                    2.5 高频振荡源：用石英谐振器，振荡频率：30MHZ 2.6 前置放大器，放大倍数约25，频宽2HZ-2MHZ 2.7 可测单晶尺寸：断面竖测： 直径25mm-150mm；厚度2mm-500mm 纵向卧测：直径5mm-20mm；长度50mm-200mm 2.8 测量方式：采用数字示波器直接读数方式 2.9 测试分辨率：数字存储示波器Z小分辨率0.01μs  2.10 设备重量：20 Kg  2.11 仪器电源：电源电压类型：单相210～230V,50Hz,带电源隔离、滤波、稳压，不能与未做保护措施的大功率、高频设备共用电源。