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新型表面污染测量仪
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新型表面污染测量仪型号：XH-3207
新型表面污染测量仪
125I 131I表面污染测量仪，采用闪烁探测法，一种便携式低能γ放射性沾污测量仪。用以检测放射性工作场所和实验室的工作台面、地板、墙面、手、衣服、鞋等表面受125I或131I放射性污染的程度。对医院涉及放免药盒、同位素示踪等使用低能γ放射性同位素的场所，是的防护测量仪。
本仪表为液晶显示小型可携仪表，仪器显示测量结果时发出音响讯号。液晶显示高压值和电池欠压提示。电路采用微分测量法，可将入射的131I放射性对125I污染测量的影响减小到Z小程度。
详细信息
主要指标
计数容量：0～9999 cps
定 时：1～60＂，默认2＂
测量范围：125I ：0～9999 cps
131I ：0～9999 cps
γ能量范围：125I：25～65Kev；131I： 364Kev
表面活度响应
用探测效率表示：125I≥50% 本底≤5Hz
131I≥10% 本底≤30Hz
相对固有误差：≤±25%
变异系数：仪表对于随机的统计涨落而产生的示值变异系数＜±10%。
电池寿命：在正常使用条件下5#电池三节一次能连续使用12ｈ（背光关闭）；采用3.7V充电电池可连续20h（背光关闭）
高温误差：仪器在45±2℃条件下，通电4小时，其测量误差≤±20%.
低温误差：仪器在-8±2℃条件下，通电4小时，其测量误差≤±20%.
潮湿误差：仪器在相对湿度为95±3%（40±2℃）条件下，不通电放置48小时，其测量误差≤±10%（因温度引起的误差除外）
工作环境：
环境温度：-10～+55℃
相对湿度：≤95±3%（40±2℃）
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