涂层测厚仪

涂层测厚仪  型号：TC-TT220

涂层测厚仪 

体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
主要功能
　　可进行零点校准及二点校准。
　　可对测头进行基本校准。
　　设有五个统计量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）。
　　可存贮和统计计算15个测量值。
　　具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。
　　具有自动关机功能。
　　删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。 
　　操作过程有蜂鸣声提示。
　　有欠压指示功能。
　　有错误提示功能。
主要技术指标
　　测量原理：磁性法
　　测量范围:1～1250μm
　　测量精度：±（3%H+1）μm（零点校准）
　　　　　　　±[(1～3)%H+1] μm（二点校准）

具有自动关机功能。
　　删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。 
　　操作过程有蜂鸣声提示。
　　有欠压指示功能。
　　有错误提示功能。
主要技术指标
　　测量原理：磁性法
　　测量范围:1～1250μm
　　测量精度：±（3%H+1）μm（零点校准）
　　　　　　　±[(1～3)%H+1] μm（二点校准）