技术文章

Technical articles

当前位置:首页技术文章

  • 202210-18
    产声学多普勒流速剖面仪性能特点

    产声学多普勒流速剖面仪型号:LSH10-1P-22A品简介LSH10-1P-22A型声学多普勒流速剖面仪采用**平面阵列单波束测量技术,体积小巧,安装方便,实时监测中小河流,河口,溪流,入口渠道的流速测量,可水平,斜线,垂直三种测量模式。性能特点1、进的换能器平面阵列布局;2、内置流速存储;3、测量单元zui大可达65个;4、测量距离范围到20米;5、工作频率2000KHz;6、可外接多种水位测量仪器;7、实时在线流速、流量和水位测量;8、直接显示图形化显示和流速剖面曲线图;...

  • 202210-13
    粉末布林值测定仪的测量范围

    粉末布林值测定仪型号:ALC-26ALC-26型粉末布林值测定仪,采用空气渗透测定法表征粉末的比表面积,可以快速直观地反映混合粉的比表面积,是粉体生产质量控制的主要分析手段之一,将取代筛分纯度,更直观的表现粉子的特性。仪器特征:本产品符合ASTMC204-84、YS/T734-2010标准设计制造。**用控制软件和高清触摸屏人机界面,可实现仪器的校准、测量、结果计算、参数设置、数据存储、测量结果查询等功能。系统预留数据网络传输功能,可以实现实验室数据的集中管理和实时共享。高尺...

  • 202210-13
    常温药物凝点仪的技术指标

    常温药物凝点仪型号:YN-700本仪器严格按《中国药典》凝点测定法设计制造,测定药物由液体凝结为固体时候,在短时间内停留不变的**高温度.某些药品具有一定的凝点,纯度变更,凝点亦随之改变.测定凝点可以区别或检查药品的纯杂程度。采用保温杜瓦瓶透明观察,可以在做样时透明观察凝固点,优质冷轧钢板成型,表面静电喷塑处理。主要特点:1.中文液晶屏显示,适时显示仪器的温度、时间、参数等工作状态2.采用**的单片机智能控温,控温精度高3.设计单槽2孔进行凝点测试,准确易用技术指标:显示方式...

  • 202210-12
    个人声暴露计时间设定

    个人声暴露计型号:HS5910HS5910个人声暴露计是一种测量指数时间计权声级的通用声级计,又是能测量时间平均声级的积分声级计和测量声暴露的个人声暴露计,其性能符合GB/T15592-2010/IEC61252:2002(电声学个人声暴露计规范)标准要求,同时也符合GB/T3785-2010和IEC61672-2002标准对2级声级计的要求。本仪器采用**的数字检波技术,具有可靠性高、稳定性好、动态范围宽等优点。点阵液晶显示,用户操作简便,电池供电,测量结果长期保存在仪器内...

  • 202210-11
    ​除颤效应测试仪信号发生器的输出电压

    除颤效应测试仪型号:CC96751.输出电压:DC2~5kV精度:±3%2.测试时间:200ms精度:±50%3.测试报警时间:10s、5s精度:±1s4.内置10Hz、2Hz正弦波信号发生器5.内置信号发生器电压:5Vpp精度:±10%6.电源:AC220±10%50Hz7.工作条件:环境温度:10~40℃;相对温度:30~70%;大气压力:75kPa-106kPa。1.输出电压:DC2~5kV精度:&p...

  • 202210-11
    粉末布林值测定仪技术参数

    粉末布林值测定仪型号:ALC-26ALC-26型粉末布林值测定仪,采用空气渗透测定法表征粉末的比表面积,可以快速直观地反映混合粉的比表面积,是粉体生产质量控制的主要分析手段之一,将取代筛分纯度,更直观的表现粉子的特性。仪器特征:本产品符合ASTMC204-84、YS/T734-2010标准设计制造。**用控制软件和高清触摸屏人机界面,可实现仪器的校准、测量、结果计算、参数设置、数据存储、测量结果查询等功能。系统预留数据网络传输功能,可以实现实验室数据的集中管理和实时共享。高尺...

  • 202210-10
    数显玻璃制品应力检查仪用途及使用范围

    数显玻璃制品应力检查仪型号:WZY-250D玻璃制品应力检查仪是应用偏振光干涉原理检查玻璃的内应力或晶体双折射效应的仪器。仪器备有灵敏色片,并应用1/4波片补偿方法,因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序定性判断玻璃的内应力,还可以准确定量的测量玻璃内应力的数值。WZY-250D适用于对各种玻璃瓶、罐、杯、玻璃管、灯泡、异型制品、玻璃器皿、水晶制品、人工宝石、光学玻璃、PET瓶坯及其它光学材料应力值的测量和产品质量控制,还可用于判定透明注塑制品残余应力分布,有助于优化模具设...

  • 202210-10
    四探针方阻电阻率测试仪参照标准

    四探针方阻电阻率测试仪型号:一.描述Description:采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.二.参照标准standard:硅片电阻率测量的标准(ASTMF84)及国家标准设计制造;GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.三.适用范围Applicablescope:适用于...

共 3921 条记录,当前 24 / 491 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页